粉沫/固體電阻測試儀

主要標準：
GB/T 1410-2006 固體絕緣材料 體積電阻率和表面電阻率試驗方法
GB 12014 防靜電工作服
GB/T 20991-2007 個體防護裝備 鞋的測試方法
GB 4385-1995 防靜電鞋、導電鞋技術(shù)要求 
GB 12158-2006 防止靜電事故通用導則
GB 4655-2003 橡膠工業(yè)靜電安全規(guī)程
GB/T 12703.4-2010 紡織品 靜電性能的評定 第4部分 電阻率
GB/T 12703.6-2010 紡織品 靜電性能的評定 第6部分 纖維泄漏電阻
GB 13348-2009 液體石油產(chǎn)品靜電安全規(guī)程
GB/T 15738-2008 導電和抗靜電纖維增強塑料電阻率試驗方法
GB/T 18044-2008 地毯 靜電習性評價法 行走試驗
GB/T 18864-2002 硫化橡膠 工業(yè)用抗靜電和導電產(chǎn)品 電阻極限范圍
GB/T 22042-2008 服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法
GB/T 22043-2008 服裝 防靜電性能 通過材料的電阻（垂直電阻）試驗方法
GB/T 24249-2009 防靜電潔凈織物
GB 26539-2011 防靜電陶瓷磚 Antistatic ceramic tiles
GB/T 26825-2011 抗靜電防腐膠
GB 50515-2010 導（防）靜電地面設計規(guī)范
GB 50611-2010 電子工程防靜電設計規(guī)范
GJB 105-1998-Z 電子產(chǎn)品防靜電放電控制手冊
GJB 3007A-2009 防靜電工作區(qū)技術(shù)要求
GJB 5104-2004 無線電引信風帽用防靜電涂料及風帽靜電性能通用要求

技術(shù)指標
1.   電阻測量范圍： 1×104Ω ～1×1018Ω，分為十四個量程。
2.   電流測量范圍： 2×10-4A ～1×10-16A
3.  全數(shù)字液晶屏顯示。
4.  準確度: 準確度優(yōu)于下表:
量程    有效顯示范圍    20～30℃ RH<80%
104    0.01~19.99    1%
105    0.01～19.99    1%
106    0.01～19.99    1%
107    0.01～19.99    1%
108    0.01～19.99    1%
109    0.01～19.99    1%
1010    0.01～19.99    5%+2字
1011    0.01～19.99    5%+2字
1012    0.01～19.99    5%+5字
1013    0.01～19.99    10%+5字
1014    0.01～19.99    10%+5字
1014以上    0.01～19.99    10-15%+5字
( 超出有效顯示范圍時誤差有可能增加)
測試電流準確度與電阻相同)
測試電壓準確度為 10%
5. 使用環(huán)境: 溫度 -10℃～50℃    相對濕度<90%。
6. 測試電壓:    DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%
7. 供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約10W。
8. 儀器尺寸: 300ｍｍ× 280ｍｍ× 150 mm。
9. 質(zhì)量: 約3.0KG。

粉沫/固體電阻測試儀

概述 

 本儀器既可測量超高電阻，又可測極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及的技 術(shù)，使儀器體積小、重量輕、準確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時直接顯示流過被測電阻的電流。電阻量程從1×104Ω ～1×1018Ω， 電流測量范圍 為2 ×10-4A ～1 ×10-16A。機內(nèi)測試電壓為DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。

本儀器具有精度高、顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便, 適用于防靜電產(chǎn)品 如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值的檢驗以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。

粉沫/固體電阻測試儀

測量技術(shù) 
a.通常，絕緣材料用于電氣系統(tǒng)的各部件相互絕緣和對地絕緣，固體絕緣材料還起機械支撐作用。一般希望材料有盡可能高的絕緣電阻，并具有合適的機械、化學和耐熱性能。

b.絕緣材料的電阻率一般都很高，也就是傳導電流很小。如果不注意外界因素的干擾和漏電流的影響，測量結(jié)果就會發(fā)生很大的誤差。同時絕緣材料本身的吸濕性和環(huán)境條件的變化對測量結(jié)果也有很大影響。

c.影響體積電阻率和表面電阻率測試的主要因素是溫度和濕度、電場強度、充電時間及殘余電荷等。體積電阻率可作為選擇絕緣材料的一個參數(shù)，電阻率隨溫度和濕度的變化而顯著變化。體積電阻率的測量常常用來檢查絕緣材料是否均勻，或者用來檢測那些能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測到的導電雜質(zhì)。

d.由于體積電阻總是要被或多或少地包括到表面電阻的測試中去，因此只能近似地測量表面電阻，測得的表面電阻值主要反映被測試樣表面污染的程度。所以，表面電阻率不是表征材料本身特性的參數(shù)，而是一個有關材料表面污染特性的參數(shù)。當表面電阻較高時，它常隨時間以不規(guī)則的方式變化。測量表面電阻通常都規(guī)定1min的電化時間。 

（1）溫度和濕度：固體絕緣材料的絕緣電阻率隨溫度和濕度的升高而降低，特別是體積電阻率隨溫度改變而變化非常大。因此，電瓷材料不但要測定常溫下的體積電阻率，而且還要測定高溫下的體積電阻率，以評定其絕緣性能的好壞。由于水的電導大，隨著濕度增大，表面電阻率和有開口孔隙的電瓷材料的體積電阻率急劇下降。因此，測定時應嚴格地按照規(guī)定的試樣處理要求和測試的環(huán)境條件下進行。
（2）電場強度：當電場強度比較高時，離子的遷移率隨電場強度增高而增大，而且在接近擊穿時還會出現(xiàn)大量的電子遷移，這時體積電阻率大大地降低。因此在測定時，施加的電壓應不超過規(guī)定的值。
（3）殘余電荷：試樣在加工和測試等過程中，可能產(chǎn)生靜電，電阻越高越容易產(chǎn)生靜電，影響測量的準確性。因此，在測量時，試樣要*放電，即可將幾個電極連在一起進行短路。
（4）雜散電勢的消除：在絕緣電阻測量電路中，可能存在某些雜散電勢，如熱電勢、電解電勢、接觸電勢等，其中影響zui大的為電解電勢。用高阻計測量表面潮濕的試樣的體積電阻時，測量極與保護極間可產(chǎn)生20mv的電勢。試驗前應檢查有無雜散電勢?？筛鶕?jù)試樣加壓前后高阻計的二次指示是否相同來判斷有無雜散電勢。如相同，證明無雜散電勢；否則應當尋找并排除產(chǎn)生雜散電勢的根源，才能進行測量。
（5）防止漏電流的影響：對于高電阻材料，只有采取保護技術(shù)才能去除漏電流對測量的影響。保護技術(shù)就是在引起測量誤差的漏電路徑上安置保護導體，截住可能引起測量誤差的雜散電流，使之不流經(jīng)測量回路或儀表。保護導體連接在一起構(gòu)成保護端，通常保護端接地。測量體積電阻時，三電極系統(tǒng)的保護極就是保護導體。此時要求保護電極和測量電極間的試樣表面電阻高于與它并聯(lián)元件的電阻10～100倍。線路接好后，應首先檢查是否存在漏電。此時斷開與試樣連接的高壓線，加上電壓。如在測量靈敏度范圍內(nèi)，測量儀器指示的電阻值為無限大，則線路無漏電，可進行測量。
（6）條件處理和測試條件的規(guī)定:固體絕緣材料的電阻隨溫度、濕度的增加而下降。試樣的預處理條件取決于被測材料，這些條件在材料規(guī)范中規(guī)定。推薦使用GB10580《固體絕緣材料在試驗前和試驗時采用的標準條件》中規(guī)定的預處理方法?？墒褂酶视汀芤撼睗裣溥M行濕度預處理。測試條件應與預處理條件盡可能地*，有些時候（如浸水處理）不能保持預處理條件和測試條件*時，則應在從預處理環(huán)境中取出后在盡可能短時間內(nèi)完成測試，一般不超過5分鐘。
（7）電化時間的規(guī)定:當直流電壓加到與試樣接觸的兩電極間時，通過試樣的電流會指數(shù)式地衰減到一個穩(wěn)定值。電流隨時間的減小可能是由于電介質(zhì)極化和可動離子位移到電極所致。對于體積電阻率小于1010Ω·m的材料，其穩(wěn)定狀態(tài)通常在1分鐘內(nèi)達到。因此，要經(jīng)過這個電化時間后測定電阻。對于電阻率較高的材料，電流減小的過程可能會持續(xù)幾分鐘、幾小時、幾天，因此需要用較長的電化時間。如果需要的話，可用體積電阻率與時間的關系來描述材料的特性。當表面電阻較高時，它常隨時間以不規(guī)則的方式變化。測量表面電阻通常都規(guī)定1分鐘的電化時間。

粉沫/固體電阻測試儀

附加介紹：

電阻率

電阻率是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。某種材料制成的長1米、橫截面積是1平方毫米的在常溫下（20℃時）導線的電阻，叫做這種材料的電阻率。電阻率的單位是歐姆·米(Ω·m或ohmm)，常用單位是歐姆·毫米和歐姆·米。

應用

電阻率較低的物質(zhì)被稱為導體，常見導體主要為金屬，而自然界中導電性zui的是銀，其次為半導體，、硅鍺。當存在外電場時，金屬的自由電子在運動中不斷和晶格節(jié)點上做熱振子的正離子相碰撞，使電子運動受到阻礙，因而就具有了一定的電阻。其他不易導電的物質(zhì)如玻璃、橡膠等，電阻率較高，一般稱為絕緣體。介于導體和絕緣體之間的物質(zhì)(如硅) 則稱半導體。電阻率的科學符號為 ρ(Rho)。 已知物體的電阻，可由電阻率ρ、長度 l 與截面面積A 計算：ρ=RA/I，在該式中， 電阻R 單位為歐姆，長度 l 單位為米，截面面積 A 單位為平方米，電阻率 ρ單位為

歐姆·米

粉沫/固體電阻測試儀

計算公式

電阻率的計算公式為：ρ=RS/L
ρ為電阻率——常用單位Ω·m
S為橫截面積——常用單位㎡
R為電阻值——常用單位Ω
L為導線的長度——常用單位m

電阻率的另一計算公式為：ρ=E/J
ρ為電阻率——常用單位Ω·mm2/m[1]
E為電場強度——常用單位N/C
J為電流密度——常用單位A/㎡
（E，J 可以為矢量）